| 確保更精確的高電阻測(cè)量 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：keithley | |
| 文檔大小：204 K | |
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| 文檔介紹：高電阻測(cè)量已成為多種測(cè)試應(yīng)用的組成部分，包括印制電路板的表面電阻（SIR）測(cè)試、絕緣材料和半導(dǎo)體的電阻率測(cè)量、高歐姆值電阻的電壓系數(shù)測(cè)試等。確保高電阻測(cè)量（即高于1GΩ[109歐姆]的電阻）的精度需要使用大量的特殊技術(shù)和儀器，例如靜電計(jì)、源測(cè)量單元（SMU）、或皮可安培計(jì)/電壓源組合。靜電計(jì)可以采用恒壓或恒流的方法測(cè)量高電阻。本文將介紹如何正確搭配測(cè)試儀器和對(duì)于確保高電阻測(cè)量應(yīng)用的精度大有幫助的測(cè)量技術(shù)。 | |
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