羅德與施瓦茨全新推出的R&S RT-ZP1X無(wú)源1:1探頭，拓展了R&S 示波器的應(yīng)用范圍。探頭與示波器的前端均擁有極小的噪聲，兩者結(jié)合使其成為測(cè)量低至1 mV/div小信號(hào)的理想設(shè)備，如集成電路和元器件的電源完整性測(cè)試。

　　2016年11月4日，慕尼黑—當(dāng)前，用戶對(duì)供電電源測(cè)試的要求顯著提升。特別是在嵌入式設(shè)計(jì)領(lǐng)域，設(shè)計(jì)人員通過(guò)集成越來(lái)越多的功能模塊到極小的空間，進(jìn)而降低系統(tǒng)功耗。電源完整性測(cè)試在此類應(yīng)用中變得不可或缺。工程師需要測(cè)量電路中毫伏級(jí)別的信號(hào)，從而研究元器件的噪聲特性。為了獲得有意義的測(cè)量結(jié)果，一款具有合適靈敏度、低噪聲的探頭是必不可少的。

　　Active, passive and current probes for Rohde & Schwarz oscilloscopes cover a variety of power electronics applications.

　　新的R&S RT-ZP1X無(wú)源1:1探頭精確地匹配R&S RTE系列示波器（高至2 GHz帶寬）與R&S RTO1000/2000系列示波器（高至4 GHz帶寬）。該探頭配合R&S RTE系列示波器，提供了面向電源完整性市場(chǎng)最高性價(jià)比的解決方案。即使在1 MΩ輸入阻抗情況下，示波器的低噪聲前端可以實(shí)現(xiàn)低于650 μVpp的底噪 （1mV/div,200MHz帶寬）。而一般示波器僅能在50 Ω輸入阻抗下才能達(dá)到該等級(jí)的噪聲值。

　　得益于高達(dá)每秒一百萬(wàn)次的波形捕獲率，用戶可以快速獲得測(cè)量結(jié)果，完成直方圖和其他信號(hào)分析。16Bit高分辨模式（HD Mode）可以幫助用戶在最小的信號(hào)細(xì)節(jié)上進(jìn)行觸發(fā)與分析。

　　R&S RTE/RTO系列示波器基于硬件DDC的快速傅立葉變換（FFT）實(shí)現(xiàn)了準(zhǔn)實(shí)時(shí)頻譜分析，方便用戶查找耦合的干擾信號(hào)。獨(dú)特的區(qū)域觸發(fā)功能可以幫助用戶在時(shí)域和頻域直觀地通過(guò)圖形化設(shè)置分離異常事件，發(fā)現(xiàn)信號(hào)的違規(guī)狀態(tài)。

　　R&S RT-ZP1X無(wú)源1:1探頭也可支持R&S RTM系列和HMO系列示波器。