過去幾天，上海的天氣經(jīng)歷了烈日和暴雨的極端涌動(dòng)，似有英雄匯聚于八方，氣勢磅礴于天地的架勢。原來是全球半導(dǎo)體界盛會(huì)SEMICON開幕，整個(gè)半導(dǎo)體供應(yīng)鏈系統(tǒng)的各路大師齊聚上海。作為半導(dǎo)體測試測量行業(yè)的引領(lǐng)者，NI展出了包括5G芯片測試系統(tǒng)等明星產(chǎn)品。展臺(tái)人頭攢動(dòng)，工程師們大汗淋漓地為參觀者講解NI此次重點(diǎn)展出的創(chuàng)新方案，如果你還意猶未盡，跟隨我們一起回顧這幾天的先鋒之旅！

5G熱點(diǎn)，我們很資深

2010年，NI就進(jìn)入5G市場。從最開始5G設(shè)計(jì)的原形，一直到這兩年開始的5G商用化，NI一直扮演著非常重要的角色。此次NI展出最新5G射頻芯片測試方案，通過NI軟硬件平臺(tái)實(shí)現(xiàn)大規(guī)模天線、毫米波頻段等5G重點(diǎn)方向的原型平臺(tái)設(shè)計(jì)。

NI攜手Skyworks，展示了如何利用NI以軟件為中心的模塊化儀器、充分滿足針對5G RFIC的各類測試需求。借助于NI 1GHz高帶寬的最新矢量信號收發(fā)儀，集成高性能數(shù)字和功率測試模塊，使得測試射頻前端芯片變得非常便捷。

NI打造了符合3GPP標(biāo)準(zhǔn)的sub-6G NR參考測試方案，其中RFIC測試方案支持802.11、2G、3G、4G以及5G NR等標(biāo)準(zhǔn)，現(xiàn)全新軟件已支持5G NR新波形OFDMA及DFT-s-OFDM等調(diào)制方式

基于PXI的ADC/DAC測試方案，我們很優(yōu)秀

 高性能儀器同步

最佳交互體驗(yàn)

可擴(kuò)展標(biāo)準(zhǔn)工業(yè)平臺(tái)

半導(dǎo)體測試系統(tǒng)STS，我們很高效

NI的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)（STS）可快速部署到生產(chǎn)的測試系統(tǒng)，適用于半導(dǎo)體生產(chǎn)測試環(huán)境（實(shí)驗(yàn)室驗(yàn)證、晶圓級測試、FT測試等），可進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測試效率，降低測試成本。

NI STS T1系統(tǒng)與Reid Ashman機(jī)械手完美搭配，可面向不同測試系統(tǒng)、定制各種應(yīng)用，易于使用和低維護(hù)配重設(shè)計(jì)，能夠輕松集成到生產(chǎn)測試設(shè)備中。

Talos實(shí)驗(yàn)室工程Handler

NI的合作伙伴——esmo采用NI STS T1系統(tǒng)、打造的Talos實(shí)驗(yàn)室工程Handler在本屆SEMICON的展臺(tái)上吸引了不少眼球。其實(shí)現(xiàn)了全自動(dòng)化生產(chǎn)測試，并支持三溫測試、溫度穩(wěn)定性優(yōu)于+/-0.5度、自動(dòng)激光定位系統(tǒng)等功能。也因?yàn)槭褂昧私y(tǒng)一開發(fā)環(huán)境LabVIEW和測試管理執(zhí)行軟件TestStand，這一臺(tái)分選機(jī)將同樣在實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)測試中使用，并減少數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)（Correlation）時(shí)間，進(jìn)一步提升半導(dǎo)體測試效率。

I2C，SPI驗(yàn)證方案

電源管理芯片性能測試

過去幾日，NI與半導(dǎo)體行業(yè)精英們在這里分享著創(chuàng)新技術(shù)與行業(yè)洞察，SEMICON精彩旅程完美結(jié)束。但我們并未停止。5月20日，NI將在美國召開一年一度的NIWeek，發(fā)布航空、國防、汽車、半導(dǎo)體等應(yīng)用領(lǐng)域中的重大科技創(chuàng)新。讓我們拭目以待！