| 一種高耐壓SPST天線調諧開關設計 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：zhoubin333 | |
| 文檔大?。?span>586 K | |
| 標簽： SPST天線調諧開關 非均勻堆疊結構 兩級偏置網絡 | |
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| 文檔介紹： 設計實現了一款高耐壓單刀單擲天線調諧開關，用于Sub-6 GHz的天線孔徑調諧、阻抗調諧以及寬帶開關。設計采用串-并聯和體區自適應偏置結構，兼顧插入損耗和隔離度；此外基于傳統的堆疊結構進行改進，通過設計各級晶體管的尺寸不均勻，極大程度地提高了開關并聯支路承受電壓的能力；通過采用兩級偏置網絡，減小了柵端和體端的泄露從而削弱關斷狀態下寄生電容不等效應，最終實現支路電壓耐受能力的提高。所提出的設計采用130 nm SOI CMOS工藝，仿真結果表明工作頻率為0.1 GHz~5 GHz，導通電阻為1.24 Ω，關斷電容為112 fF，插入損耗為0.14~0.48 dB，隔離度帶內大于30 dB，電壓承受能力大于60 V。 | |
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