| 一種滿足RFID-OTA測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試的射頻開(kāi)關(guān)箱設(shè)計(jì) | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：582 K | |
| 標(biāo)簽： RFID-OTA 射頻開(kāi)關(guān)箱 自動(dòng)化測(cè)試 | |
| 所需積分：0分積分不夠怎么辦？ | |
| 文檔介紹：介紹一種可進(jìn)行程控切換的射頻開(kāi)關(guān)箱設(shè)計(jì)。該方法根據(jù)射頻識(shí)別(RFID)和Over–the-Air(OTA)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)多頻段產(chǎn)品測(cè)試需求以及路徑校準(zhǔn)需求，通過(guò)合理的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和系統(tǒng)布局設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)RFID-OTA測(cè)試系統(tǒng)射頻開(kāi)關(guān)箱路徑的程控切換，使測(cè)試系統(tǒng)可自動(dòng)完成不同頻段下的測(cè)試路徑校準(zhǔn)以及產(chǎn)品的性能測(cè)試。 | |
| 現(xiàn)在下載 | |
| VIP會(huì)員，AET專家下載不扣分；重復(fù)下載不扣分，本人上傳資源不扣分。 | |
RFID-OTA 相關(guān)資源
aetmagazine 的最新分享
- 國(guó)產(chǎn)高性能PLC綜合測(cè)試平臺(tái)設(shè)計(jì)
- 批產(chǎn)衛(wèi)星自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)研究與實(shí)現(xiàn)
- 基于VMD-LSTM的非侵入式負(fù)荷識(shí)別方法
- 基于平均電流模式的同步Buck數(shù)字電源設(shè)計(jì)研究
- 基于以太網(wǎng)的FPGA遠(yuǎn)程調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 毫米波CQFN外殼地孔設(shè)計(jì)與優(yōu)化
- K波段緊湊型收發(fā)前端組件的設(shè)計(jì)
- 射頻模塊中晶振對(duì)電磁兼容影響研究
Copyright ? 2005-2024 華北計(jì)算機(jī)系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號(hào)-2