| 面向SoC的SRAM讀出電路加固設(shè)計 | |
| 所屬分類：技術(shù)論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大小：779 K | |
| 標(biāo)簽： SOC 單粒子翻轉(zhuǎn) SRAM讀出電路 | |
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| 文檔介紹：SRAM存儲器在SoC芯片中的應(yīng)用已經(jīng)越來越普遍，存儲單元的加固設(shè)計已成為抗輻射SoC芯片設(shè)計首要考慮的問題之一。提出了兩種SRAM讀出電路的加固結(jié)構(gòu)，分別從讀出電路結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)讀出速度和抗單粒子翻轉(zhuǎn)能力等方面進(jìn)行了對比。兩種讀出結(jié)構(gòu)的SRAM均有較好的抗單粒子能力，但相比較單模雙互鎖結(jié)構(gòu)的SRAM，雙模雙互鎖讀出結(jié)構(gòu)的SRAM讀出時間更短。 | |
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